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SiO2標準粒子

簡要描述:SiO2標準粒子:
MSP Corporation 的 NanoSilica™Size Standards 是 SiO2顆粒的濃縮水懸浮液,具有高度均勻的尺寸分布。
這些粒徑標準目前提供的標稱尺寸范圍為 15 至 200 nm,非常適合為下一代晶圓和光掩模檢測系統(tǒng)生產高質量校準標準。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:經銷商
  • 更新時間:2022-08-08
  • 訪  問  量:1775

詳細介紹

SiO2標準粒子

Nanosilica-with-particle-sample.jpg

SiO2標準粒子

納米二氧化硅尺寸標準

MSP Corporation NanoSilica™Size Standards SiO2顆粒的濃縮水懸浮液,具有高度均勻的尺寸分布。

這些粒徑標準目前提供的標稱尺寸范圍為 15 200 nm,非常適合為下一代晶圓和光掩模檢測系統(tǒng)生產高質量校準標準。

雖然 MSP 23000NPT 系列和 2300G3 系列粒子沉積系統(tǒng)為表面缺陷校準標準的生產提供了最佳結果,但較舊的 MSP 系統(tǒng)和其他制造商的系統(tǒng)也適用于納米二氧化硅尺寸標準。

特征

+ 極其均勻的尺寸分布

我們的納米二氧化硅尺寸標準采用獲得** SiO2合成工藝開發(fā),其尺寸分布比市售的 PSL 球更窄。

+ 使用 SI 可追溯性測量的峰直徑

允許產量提高和計量小組根據 ISO 9000 標準和 SEMI 指南建立其檢查和缺陷審查方法的可追溯性。

+ 受到強烈 DUV 輻射時穩(wěn)定

MSP SiO2顆粒在暴露于 DUV 輻射時不會降解,這與 PSL 球體不同,PSL 球體的尺寸會減小。

+ 易于使用

NanoSilica 顆粒懸浮液在滴管瓶中提供,以便在您的應用中混合具有適當數量濃度的懸浮液時使用方便。

+ 高粒子濃度

一些應用需要高濃度。 MSP 的顆粒濃度是業(yè)內最高的之一。

+ 輕松辨別模態(tài)(峰值)直徑

+ 避免由于平均和峰值直徑值之間的差異而導致的差異

+ 制備適用于效率相對較高或較低的氣溶膠產生裝置的稀釋懸浮液

+ 為***的檢測工具創(chuàng)建持久的校準標準

+ 消耗更少的材料;存錢

+ 隨附校準和可追溯性證書以及帶有處理和處置說明的安全數據表 (SDS)

型號

目錄編號

標稱粒徑 [nm]

認證1峰值直徑 [nm]

大約

Size Dist. Width, RFWHM2

1044

NS-0015A

15

14-16

13%

1046

NS-0018A

18

17-19

12%

1047

NS-0020A

20

19-21

11%

1048

NS-0024A

24

23-25

10%

1075

NS-0027A

27

26-28

9%

1049

NS-0030A

30

29-31

8%

1079

NS-0032A

32

31-33

7%

1062

NS-0035A

35

34-36

7%

1076

NS-0037A

37

36-38

6%

1051

NS-0040A

40

39-41

6%

1063

NS-0045A

45

44-46

5%

1052

NS-0050A

50

49-51

5%

1077

NS-0055A

55

53-57

5%

1053

NS-0060A

60

58-62

4%

1067

NS-0064A

64

62-66

4%

1054

NS-0070A

70

68-72

4%

1068

NS-0074A

74

72-76

4%

1055

NS-0080A

80

78-82

4%

1069

NS-0084A

84

82-86

4%

1057

NS-0090A

90

88-92

4%

1070

NS-0094A

94

92-96

4%

1058

NS-0100A

100

98-102

4%

1071

NS-0104A

104

102-106

4%

1059

NS-0125A

125

120-130

4%

1060

NS-0150A

150

145-155

4%

1061

NS-0200A

200

190-210

4%

1給定目錄號的認證直徑將在規(guī)定范圍內提供。

2相對半高寬(半高全寬); FWHM 除以模態(tài)直徑。

規(guī)格

粒子組成

無定形SiO2

粒子密度

1.9 /3

折射率

633納米時為1.41

體積

5

專注

每毫升 1013 1015顆粒

截止日期

≥ 24

添加劑

乙醇(按質量計 5-20%

有機穩(wěn)定劑(<0.1% 質量

儲存和處理

在室溫下儲存(參見校準和可追溯性證書

更多詳情。

1659872104127.png


NanoSilica™ 微粒子標準溶液是由MSP Corporation制作的高度均勻尺寸SiO2微粒子濃縮水溶液,微粒子尺寸從18nm200nm都可選擇,是市面上***、高質量的校正標準,適用于最新一代的晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)及光罩檢查系統(tǒng)。

***的半導體檢查技術已經發(fā)展到小于30nm,以往使用Polystyrene latex (PSL)球形化粒子即可做晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)及光罩檢查系統(tǒng)的校正,但新一代的檢查系統(tǒng)使用到Deep ultraviolet (DUV) or Extreme ultraviolet (EUV)才能檢查小于20nm的污染或缺陷,當UV光重復打在PSL球形化粒子上,將影響到PSL球形化粒子的質量; 由于SiO2微粒子在DUVEUV的照射下?lián)碛蟹€(wěn)定的質量,因此SiO2微粒子是最佳的替代產品。

NanoSilica™ 微粒子標準溶液是使用有**SiO2合成技術,可以做到如PSL球形化粒子一樣的尺寸分布,從目前最小的微粒子尺寸來看,NanoSilica™ 微粒子標準溶液是尺寸最均勻,適合做尺寸大小峰值的量測的工具。

NIST-traceable NanoSilica™ 微粒子標準溶液是MSP Corporation透過National Institute of Standards and Technology (NIST)追溯到標準單位的產品,加上ISO 9000SEMI的認證,讓良率提升及表面檢查和缺陷評估有所依據。

NanoSilica™ 微粒子標準溶液使用15-mL滴定,讓使用者操作更方便。每一瓶溶液的卷標皆標示產品編號、生產編號、微粒子尺寸峰值、尺寸分布半高寬及有效期限,而且提供NIST-traceable證明書與Material Safety Data Sheet (MSDS)說明書。

產品優(yōu)勢
尺寸大小分布均勻
•NIST traceability 的尺寸大小
•DUVEUV的照射下?lián)碛蟹€(wěn)定的質量
高濃縮度微粒子懸浮溶液

產品效益
易于微粒子撒粒系統(tǒng)、晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)或各類分析儀器偵測與量測尺寸峰值
可避免平均尺寸與尺寸峰值的差異性
適合氣膠產生設備使用
提供耐久校正標準給*進的檢測設備使用
省錢而且耗用量少



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